Тел./Факс: (383) 332-50-60
Тел.: (383) 333-30-91
E-mail: info@diffraction.ru
РУС
ENG

Яндекс.Метрика

Главная Продукция и услуги Фотошаблоны, маски, шкалы, сетки, лимбы, растры на заказ

ЗАО Дифракция изготавливает заказные фотошаблоны, маски, решети, шкалы, сетки, лимбы, растры и т.п.

Title
Назначение:

Оптические маски, решетки, шкалы, сетки, растры и т.п. представляют собой плоскопараллельные стеклянные пластинки с нанесенными на них металлизированными рисунками (обычно в виде тонкой пленки хрома). По своему назначению их можно разделить на следующие группы:

  • Визирные и специальные сетки (калибры, марки, растры и т.д.).
  • Лимбы для углоизмерительных устройств.
  • Измерительные решетки, линейные и круговые шкалы.
  • Фотошаблоны линз Френеля, дифракционные решетки, микролинзовые растры, гомогенизаторы и т.п.
Изготовление:

Оригиналы высокоточных изделий изготавливаются методом прямой лазерной записи на прецизионном оборудовании с интерференционным контролем. В качестве подложек используются оптические пластины с клином < 1-2" и плоскостностью 0.1λ.

Копии изделий изготавливаются методом контактной фотолитографии с использованием стандартных хромированных фотошаблонов 102×102мм или 127×127мм.

Прецизионные фотошаблоны для испытаний и аттестации погрешности оптико-механического и контрольно-измерительного оборудования (отсчётные сетки, визирные шкалы, тест-объекты)

Материал подложкиОптическое стекло, кварц, ситалл
Размер подложкидо 153х153 мм (∅ 210 мм)
ТопологияПроизвольная, описанная в pcx, png, bmp или dwg форматах
Погрешность расположения элементов топологии на поле (СКО)В поле ∅ 150 мм - 0.3 мкм
В поле ∅ 100 мм - 0,2мкм

Кольцевые структуры в поле ∅ 200 мм - 0,05мкм
Минимальный элемент на поле1 мкм
ПокрытиеХром

Решетки и миры линейные, радиальные, кольцевые

Материал подложкиОптическое стекло, кварц, ситалл
ИзображениеСветлое или тёмное поле
Размер подложкидо 150х150 мм (∅ 210 мм)
ТопологияПроизвольная, описанная в pcx, png, bmp или dwg форматах
Погрешность расположения элементов топологии на поле (СКО)В поле ∅ 150 мм - 0.3 мкм
В поле ∅ 100 мм - 0,2мкм
Кольцевые структуры в поле ∅ 200 мм - 0,05мкм
Минимальный элемент на поле1 мкм
ПокрытиеХром

Лимбы, кодовые диски, угловые шкалы

Материал подложкиОптическое стекло, плавленый кварц, ситалл
ИзображениеСветлое или тёмное поле
Размер подложкидо ∅ 230 мм, толщина до 24 мм
ТопологияПроизвольная, описанная в txt, png, pcx, bmp или dwg форматах
Погрешность расположения элементов топологии на поле (СКО)Радиальная 0,05 мкм
Угловая1 угл. сек
Минимальный элемент на поле1 мкм
Количество радиальных штрихов<0.5×06 на радиусе 100 мм
Неровность края (СКО)< 0.1 мкм
Материал покрытияХром или рельеф
Template images samples

Различные микроизображения на фотошаблонах

Template scale Template diffraction element
Пример фотошаблона угловой шкалы и полутонового растра Фотошаблон дифракционного элемента
 
ЗАО ДИФРАКЦИЯ, 630090, Новосибирск, ул. Мусы Джалиля, 15 © 2011 Copyright, ЗАО «Дифракция»